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技術(shù)資料 | |
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| 固體及薄膜表面Zeta電位分析儀 |
| 瀏覽次數(shù)：4429 更新新間：2010/7/5 |
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貝克曼庫爾特公司的 固體及薄膜表面Zeta電位分析儀，型號(hào)：DelsaNano C/Solid Surface，是全球第一臺(tái)應(yīng)用電泳光散射原理，通過測(cè)量探測(cè)粒子在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)特征而求得固體（或薄膜）與液體之介面Zeta電位的分析儀。該儀器的上市為固液介面特性的表征提供了一個(gè)全新的方法。開拓了一個(gè)可探索的包括薄膜、纖維等固體表面研究的新領(lǐng)域。
固體平面樣品的Zeta電位可以使用平面樣品池來測(cè)定。該樣品池的上壁為固體平面樣品的表面代替。由于樣品池上下壁表面的電荷有差異，樣品池中的電滲流變得不對(duì)稱。電滲流取決于安裝的樣品平面的表面電荷�？捎肕ori和Okamoto的方程來分析，以測(cè)定上壁（樣品）表面處的電滲流速度�？梢酝ㄟ^表觀遷移率減去真實(shí)遷移率計(jì)算得出。樣品的表面Zeta電位可采用Smolochowski方程計(jì)算得出。因此固體平面樣品的Zeta電位可以被測(cè)量。 |
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